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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Von Alemann, Ulrich, Nina Basedahl, Gernot Graeßner, und Sabrina Kovacs (2022): Politische Ideen im Wandel der Zeit: Opladen/Toronto: Barbara Budrich/UTB. 279 Seiten. 29,90 €
    Hidalgo, Oliver
    In: Politische Vierteljahresschrift: German Political Science Quarterly, 2024-02-29, S. 1-5
    academicJournal
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    Quantitative identification of significant k-points enabling accurate & computationally efficient UTB MOS device simulation
    Vilochan Mishra, Nalin ; Medury, Aditya Sankar
    In: 2022 International Semiconductor Conference (CAS), 2022-10-12, S. 247-250
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Direktaufruf in IEEE Xplore (Volltext)
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    Use of spectral decomposition in identifying stratigraphic baffles below seismic resolution; A case study of UTB field, offshore Niger Delta
    Durogbitan, Abimbola ; Simon, Eyogwe ; et al.
    In: Journal of Applied Geophysics, Jg. 217 (2023-10-01)
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Direktaufruf in ScienceDirect (Volltext)
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  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Temperature Dependent Band Gap Correction Model Using Tight-Binding Approach for UTB Device Simulations
    Mishra, N.V. ; Solanki, R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nanotechnology, Jg. 22 (2023), S. 8-13
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Direktaufruf in IEEE Xplore (Volltext)
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    Comparison of Different Approaches used for Estimation of Electrostatics in UTB devices
    Mishra, Nalin Vilochan ; Kansal, Harshit ; et al.
    In: 2022 IEEE 22nd International Conference on Nanotechnology (NANO), 2022-07-04, S. 347-350
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Direktaufruf in IEEE Xplore (Volltext)
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    The Modulation Effect of LPCVD-SixNy Stoichiometry on 2-DEG Characteristic of UTB AlGaN/GaN Heterostructure
    Zhu, L. ; Zhou, Q. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-09-01), Heft 9, S. 4828-4834
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Direktaufruf in IEEE Xplore (Volltext)
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Impact of Temperature on the Reliability of UTB-DG-FE-TFETs and Their RF/Analog and Linearity Parameter Dependence
    Gopal, Girdhar ; Varma, Tarun
    In: Journal of Electronic Materials, Jg. 52 (2023-09-01), Heft 9, S. 6293-6307
    academicJournal
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    Buchrezension zu: Theologie und Naturwissenschaft: Theologie und Naturwissenschaft, Matthias Haudel, 486 S., utb, 2. Aufl., SC, 24,90 €. ISBN: 9783825261429
    Brandt, Roland
    In: BIOspektrum: Das Magazin für Biowissenschaften, Jg. 30 (2024-03-01), Heft 2, S. 240
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    The effects of surface passivation on the electrostatics of the UTB SOI devices
    Solanki, Ravi ; Medury, Aditya Sankar
    In: 2021 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), 2021-09-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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    Direktaufruf in IEEE Xplore (Volltext)
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Performance Analysis of UTB and Nanowire Tunnel FET by varying various Device Intrinsic Parameters
    Joshi, Romil ; Shaherawala, Prutha ; et al.
    In: 2021 Second International Conference on Electronics and Sustainable Communication Systems (ICESC), 2021-08-04, S. 522-529
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Direktaufruf in IEEE Xplore (Volltext)
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Michael Beißwenger, Lothar Lemnitzer & Carolin Müller-Spitzer (Hg.). 2022. Forschen in der Linguistik. Eine Methodeneinführung für das Germanistik-Studium. Stuttgart: utb. 533 S.
    Hagen, Hirschmann
    In: Zeitschrift für Rezensionen zur Germanistischen Sprachwissenschaft, Jg. 15 (2023-11-01), Heft 1-2, S. 32-42
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Direktaufruf in DOAJ (Volltext)
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    Interface States Characterization of UTB SOI MOSFETs From the Subthreshold Current
    Vermeer, M.L. ; Hueting, R.J.E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-02-01), Heft 2, S. 497-502
    Online academicJournal
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    Direktaufruf in IEEE Xplore (Volltext)
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    Performance Assessment of UTB-SOI MOS Transistor with Negative Capacitance Gate-stack
    Priyadarshini, Elina ; Kumar Maity, Subir
    In: 2018 International Conference on Applied Electromagnetics, Signal Processing and Communication (AESPC), Jg. 1 (2018-10-01), S. 1-4
    Online Konferenz
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    Analysis of the Output Conductance Degradation With the Substrate Bias in SOI UTB and UTBB Transistors
    Costa, F.J. ; Trevisoli, R. ; et al.
    In: 2018 33rd Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2018-08-01, S. 1-4
    Online Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Rezension zu:Unser, Alexander / Riegel, Ulrich:Grundlagen der quantitativ-empirischen Religionspädagogik. Eine anwendungsorientierte Einführung,Münster / New York: Waxmann 2022 (= utb 5852).
    Ritzer, Georg
    In: Österreichisches Religionspädagogisches Forum, Jg. Jahrgang 312023) (2023-05-01), Heft Heft 1, S. 274-278
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Direktaufruf in DOAJ (Volltext)
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    ApS Brno s.r.o. secures contract for Audio-Visual Equipment-UTB-AV Gallery G18 II technique
    In: Pivotal Sources, 2024-05-01
    Zeitungsartikel
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    JTK s.r.o. secures contract for Television and radio receivers, and sound or video recording or reproducing apparatus – UTB – Outdoor technika FMK - kamera
    In: Pivotal Sources, 2024-03-19
    Zeitungsartikel
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    Development of the Internet-Delivered Cognitive Behaviour Therapy Undesirable Therapist Behaviours Scale (ICBT-UTBS)
    Hadjistavropoulos, Heather D. ; Gullickson, Kirsten M. ; et al.
    In: Internet Interventions, Jg. 18 (2019-12-01)
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    serialPeriodical
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    Effects of composition fraction on subthreshold behavior of InAsxSb(1-x) channel UTB MOSFETs
    Dey, Sulata ; Dey, Bikash ; et al.
    In: 2018 Emerging Trends in Electronic Devices and Computational Techniques (EDCT), 2018-03-01, S. 1-5
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Direktaufruf in IEEE Xplore (Volltext)
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